狹縫掃描光束分析儀NanoScan 2

簡(jiǎn)要描述：狹縫掃描光束分析儀NanoScan 2，源自2010 年加入OPHIR 集團(tuán)的PHOTON INC。PHOTON INC 自1984 年開(kāi)始研發(fā)生產(chǎn)掃描式光束分析儀，在光通訊、LD/LED 測(cè)試等領(lǐng)域享有盛名。掃描式與相機(jī)式光斑分析儀的互補(bǔ)聯(lián)合使得OPHIR可提供完備的光束分析解決方案

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廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2025-07-14
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掃描式光束分析是一種經(jīng)典的光斑測(cè)量技術(shù)，通過(guò)狹縫/ 小孔取樣激光光束的一部分，將取樣部分通過(guò)單點(diǎn)光電探測(cè)器測(cè)量強(qiáng)度，再通過(guò)掃描狹縫/ 小孔的位置，復(fù)原整個(gè)光斑的分布。

掃描式光束分析儀的優(yōu)點(diǎn)：

• 取樣尺度可以到微米量級(jí)，遠(yuǎn)小于CCD 像素，可獲得較高的空間分辨率而無(wú)需放大；

• 采用單點(diǎn)探測(cè)器，適應(yīng)紫外~ 中遠(yuǎn)紅外寬范圍波段；

• 單點(diǎn)探測(cè)器具備很高的動(dòng)態(tài)范圍，一個(gè)探頭可同時(shí)適應(yīng)弱光和強(qiáng)光分析。

掃描式光束分析儀的缺點(diǎn)：

• 多次掃描重構(gòu)光束分布，不適合輸出不穩(wěn)定的激光；

• 不適合非典型分布的激光，近場(chǎng)光斑有熱斑、有條紋等的狀況。

掃描式光束分析儀與相機(jī)式光束分析儀是互補(bǔ)關(guān)系而非替代關(guān)系；在很多應(yīng)用，如小光斑測(cè)量（焦點(diǎn)測(cè)量）、紅外高分辨率光束分析等方面，掃描式光束分析儀具備du特的優(yōu)勢(shì)。

NanoScan 2s 系列狹縫掃描式光束分析儀，源自2010 年加入OPHIR 集團(tuán)的PHOTON INC。PHOTON INC 自1984 年開(kāi)始研發(fā)生產(chǎn)掃描式光束分析儀，在光通訊、LD/LED 測(cè)試等領(lǐng)域享有盛名。掃描式與相機(jī)式光斑分析儀的互補(bǔ)聯(lián)合使得OPHIR可提供完備的光束分析解決方案。

特點(diǎn)和功能：

• 可測(cè)量連續(xù)激光以及大于1KHz 重頻的脈沖激光

• 取樣間隔可以調(diào)節(jié)小到5.7nm，使其能夠極其精確地測(cè)量非常小的光斑，

• 可顯示2D/3D 光斑形貌

• 掃描速度可調(diào)諧

• 16 位數(shù)字化信號(hào)采集，35dB 高動(dòng)態(tài)范圍，20Hz *刷新頻率

• 支持用戶(hù)進(jìn)行二次開(kāi)發(fā)，便于集成

• 探頭可添加功率計(jì)選項(xiàng)

• 硅、鍺和熱釋電探測(cè)器可選，測(cè)量范圍可覆蓋很寬的光譜范圍和功率級(jí)別

• 不加衰減就可以測(cè)量較高功率或焦點(diǎn)處光斑

• 所有的NanoScan 的校準(zhǔn)都可以朔源NIST 標(biāo)準(zhǔn)以確保*終的精度

• 符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO/DIN 11146 及ISO13694。（1989~1996 年，Photon 公司主持了ISO/DIN 委員會(huì)的工作，制訂出了ISO/DIN11146 標(biāo)準(zhǔn)）

型號(hào)指標(biāo)：

軟件功能：

NanoScan 提供Standard 與Professional 兩種功能版本：

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